產(chǎn)品名稱(chēng):

zeta電位分析儀

發(fā)布日期: 2024-04-22
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zeta電位分析儀采用的是電泳光散射原理:帶電顆粒在外加電場(chǎng)作用下進(jìn)行運(yùn)動(dòng),電荷運(yùn)動(dòng)使散射光產(chǎn)生頻率漂移(多普勒頻移),采用頻譜漂移分析技術(shù),從而可計(jì)算出顆粒的電泳遷移率和Zeta電位。
  • 詳細(xì)內(nèi)容

     zeta電位分析儀是采用光子相關(guān)光譜法、電泳光散射以及FST技術(shù)來(lái)分析的麥克默瑞提克納米粒度儀和zeta電位一體機(jī),并可測(cè)定固體以及高濃度懸浮液的zeta電位,符合ISO標(biāo)準(zhǔn)。該儀器采用了高靈敏度測(cè)量技術(shù),可同時(shí)滿足低濃度和高濃度樣品納米粒度與zeta電位分析的要求,濃度范圍由0.001%到40%,可檢測(cè)粒徑從0.6nm到10μm,濃度從0.00001%到40%的樣品的粒徑。

測(cè)量原理:

    該儀器采用電聲學(xué)原理來(lái)測(cè)量顆粒的電動(dòng)特性。在分散系中加入1個(gè)高頻的電場(chǎng),則帶電顆粒相相應(yīng)電場(chǎng)內(nèi)進(jìn)行電泳。如果在顆粒與液體之間產(chǎn)生1個(gè)密度差,則這種運(yùn)動(dòng)會(huì)產(chǎn)生1個(gè)交互的聲波。采用該電場(chǎng)和對(duì)應(yīng)的聲波技術(shù)可對(duì)樣品進(jìn)行無(wú)干擾的測(cè)量,不會(huì)破壞樣品的特性。

    其他技術(shù)如微量電泳和電泳光散射技術(shù),須要樣品被稀釋?zhuān)氁獙⒃紳舛鹊臉悠贩糯笙♂尯脦妆丁R虼耍?終用戶(hù)須在人為的狀態(tài)下分析顆粒樣品的特性,而不是獲得實(shí)際狀態(tài)下樣品的真實(shí)特性描述。并且,嚴(yán)格的光學(xué)聚焦和擴(kuò)展調(diào)整來(lái)適應(yīng)靜態(tài)的層裝樣品,使得微量電泳技術(shù)變得非常煩瑣,而大的直流電場(chǎng)可導(dǎo)致樣品的PH發(fā)生漂移。如果采用ZetaFinder型電位分析儀,則這些問(wèn)題將不復(fù)存在。

zeta電位分析儀技術(shù)特點(diǎn)

1)采用的電動(dòng)聲波振蕩技術(shù),該儀器可完成非凡的電動(dòng)測(cè)量結(jié)果,從而避免了傳統(tǒng)的微電泳技術(shù)的許多限制和局限。

2)提供數(shù)據(jù)快速準(zhǔn)確而不需要稀釋樣品,從而避免了稀釋器材的使用和錯(cuò)誤(樣品稀釋?zhuān)琙eta電位將*改變);

3)該儀器可同時(shí)測(cè)量Zeta電位、PH、電導(dǎo)、溫度等指標(biāo)。樣品在測(cè)量時(shí)甚至可以進(jìn)行滴定操作;

4)堅(jiān)固的、多功能的、鍍金的Zeta浸入探頭可以用于樣品室或獨(dú)立的容器中;

5)自動(dòng)滴定法用于簡(jiǎn)單的IEP測(cè)量;

6)樣品可被強(qiáng)烈攪拌或混合,因此不會(huì)產(chǎn)生沉淀物;

7)高頻電場(chǎng)采用非常短的脈沖,因此樣品測(cè)量時(shí)不會(huì)產(chǎn)生錯(cuò)誤;

8)可實(shí)時(shí)測(cè)量實(shí)際樣品;

9)不使用光學(xué)技術(shù),因此可以在任何pH值下分析固體、不透明或半透明樣品;

10)可測(cè)量水溶液、非水溶液分散系,分散系濃度范圍從0.1% ~60%。非常輕松就可測(cè)量1nm到50um的樣品顆粒;

11)該儀器操作非常簡(jiǎn)單。它提供電腦控制、自動(dòng)測(cè)量,不須特別的樣品池,樣品可隨時(shí)從任何現(xiàn)場(chǎng)或?qū)嶒?yàn)中獲取,可直接實(shí)時(shí)獲得理想的


 技術(shù)參數(shù)

1.適用粒度范圍:0.001-100μm

2.樣品體積:0.18~1.5ml

3.pH值測(cè)量范圍:1-14

4.電導(dǎo)率范圍:0-20 S/m

5.電泳遷移率范圍:10-10~10-7m2 /V.s

6.溫度控制:-5~110℃, ±0.1℃

7.電場(chǎng)強(qiáng)度:0~3.2 kV/m

8.電極:永性開(kāi)放式電極,電極材料純鈀

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